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當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 三維形貌儀 > 三維表面形貌測量儀 > μCMM高精度光學坐標測量儀
簡要描述：高精度光學坐標測量儀μCMM是奧地利Bruker Alicona公司研發(fā)生產(chǎn)的集樣品尺寸特性，位置，形狀和粗糙度測量功能于一體的全程高精度測量系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：μCMM廠商性質：代理商更新時間：2024-07-03訪 問 量：3472產(chǎn)品分類
Product classification詳細介紹
高精度光學坐標測量儀μCMM的突出特點：
. 高精度測量公差非常小的部件
. μCMM是同類產(chǎn)品中精確很高的純光學微坐標測量系統(tǒng)。
. 用戶將觸覺坐標測量技術和光學表面測量技術的優(yōu)勢結合起來，只用一個傳感器測量零件的尺寸、位置、形狀和粗糙度。
. μCMM提供了更高幾何精度的光學三維測量，能夠測量大部件上的小表面細節(jié)，并精確確定這些單獨測量的相對位置。
. 可測量表面的光譜包括所有常見的工業(yè)材料和復合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、硅。
. 材料從啞光到拋光各種反光成分都可以測量。
. 操作簡單是通過單按鈕解決方案，有一個集自動化和人體工程學控制元素特別設計的控制器。
. 帶線性驅動的空氣軸承軸可實現(xiàn)無磨損使用和高精度、以及更快速測量。這也使得μCMM非常適合在生產(chǎn)中長期使用。
高精度光學坐標測量儀μCMM的技術參數(shù)：
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